思莱克碳化硅半导体新闻
当前位置:首页 >> 新闻资讯 >> 行业资讯

碳化硅衬底制备的主要难点


  • 时间:2026-03-23
  • 阅读量:0

  • 碳化硅衬底制备的主要难点
    • 总结

    碳化硅衬底制备的核心难点,在于需在超过2000℃的极端高温下,从没有液态、拥有250多种晶体结构的超硬材料中,精确生长出大尺寸、单一晶型且几乎无缺陷的单晶,并对其进行高精度、低损伤的加工,以实现高良率、低成本的规模化量产。

    碳化硅衬底晶体生长难度极高

    碳化硅无液态形式,只能气态直接变固态,且多型体超250种,仅少数有商业价值。晶体生长需精确控制热力学条件,避免“多型共生”,主流的物理气相输运(PVT)法工艺窗口窄,控制难度极高。

    碳化硅衬底缺陷控制严格

    晶体内部及表面缺陷影响器件性能,提升产品良率关键在于缺陷控制。微管已基本消除;位错是核心难题,8英寸衬底总位错密度可控制在2000个/cm²左右,外延层目标将特定缺陷降至0.1个/cm²以下;表面形貌缺陷与衬底加工质量相关,需严格管控。

    碳化硅衬底加工成本较高

    碳化硅莫氏硬度高达9.2,属超硬、难加工材料。切割时传统线切割方式速度慢、耗材损耗大;抛光时化学机械抛光(CMP)材料去除率低,易引入表面损伤,加工成本高。

    碳化硅衬底大尺寸产业化困难

    将实验室小尺寸样品稳定量产为大尺寸衬底是产业化最大鸿沟。热场均匀性随晶体直径增大而难度指数级提升;大尺寸化是降成本核心路径,但需保持高良率,关键要控制缺陷在极低水平。

    目前业界正通过优化PVT法热场设计、开发液相法(TSSG)等新技术路线、利用机器学习辅助工艺优化等方式,攻克难题,目标是实现8英寸及以上尺寸、更低成本、更高品质的碳化硅衬底规模化量产。

    推荐产品



    企业产品
    网站首页 电话咨询 解决方案